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簡要描述:可在寬的動態(tài)溫度范圍內(nèi)進行測試,依據(jù)IES LM-82和LM-79-19建議的方法在較寬的動態(tài)溫度范圍內(nèi)測試光度和比色性能而專門設(shè)計的。
詳細介紹
具有集中式數(shù)據(jù)管理的靈活的模塊化解決方案
特點:
尺寸25 cm - 3 m可選.
光譜儀可選、特定的應用模塊在保證生產(chǎn)效率**化的同時也保證了的的精確度、可重復性。
新增了兼具功能性與簡易性的電控模塊,符合 IES LM-79-19 ,IES LM-78等相關(guān)標準;
測量參數(shù)
電學:電流(I)、電壓(V)、電功率(W)、 頻率、總諧波失真(THD)、 k因子等。
光學:總光譜通量、輻射通量、光通量、色度、光效、輻射通量、光譜強度、色度坐標、色溫、顯色指數(shù)、峰值波長、主波長、CIE光譜純度、CIE色度、半峰值帶寬、光譜功率分布
高效前通量測試方法
半積分球光譜儀測量系統(tǒng)設(shè)計用于測量前向發(fā)光燈,LED,板載和用于固態(tài)照明(SSL)的散熱LED光引擎,采用Spectraflect®涂層半球,內(nèi)部帶有鏡面,可在內(nèi)部創(chuàng)建虛擬積分球。
鏡像表面放置的端口允許被測設(shè)備(DUT)內(nèi)部安裝在虛擬球體的中心,同時保持 DUT 的電氣和熱控制,減少傳統(tǒng)球體中可能出現(xiàn)的吸收誤差。
可在寬的動態(tài)溫度范圍內(nèi)進行測試
依據(jù)IES LM-82和LM-79-19建議的方法在較寬的動態(tài)溫度范圍內(nèi)測試光度和比色性能而專門設(shè)計的。
特性:
快速,低噪音; TE 冷卻薄式背照型 CCD 陣 列探測器
快門可實時進行暗背景測量
硬件觸發(fā)功能
長時間曝光具有出色的穩(wěn)定性
高動態(tài)范圍
環(huán)境溫度控制和監(jiān)控
光源溫度監(jiān)控器
LIV 和溫度穩(wěn)定性
同時對LED進行熱學、光學、電學性能分析
加設(shè)了溫控盤,方便用戶對LED、LED模塊及陣列的電特性、光學和熱學特性準確測量。
測量
電學:電流(I)、電壓(V)、電功率(W)
光學:光輻射功率、光通量、顏色、光效、光通量、輻射通量、發(fā)光效率、光譜強度、色度坐標、色 溫、顯色指數(shù)、峰值波長、主波長、CIE光譜純度、CIE色度、半峰值寬帶、光譜功率分布、電學特性 熱學:載體溫度與電學、光學參數(shù)關(guān)系
產(chǎn)品手冊:光學測量系統(tǒng).pdf
產(chǎn)品數(shù)據(jù):illumia®Plus2 半積分球光譜儀測試系統(tǒng).pdf
illumia® Plus2 溫控積分球光譜儀 測試系統(tǒng).pdf
illumia®Plus2 積分球光譜儀.pdf
Illumia®Pro2 熱學、光 學、電學性能測試系統(tǒng).pdf
視頻欣賞:積分球光測量系統(tǒng)
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